unknown8888
第52楼2013/01/30
说得相当好啊,在LC-ICP-MS与IC同时都能满足六价铬1类和3类测试要求的前提下,过度的放大仪器的“未来”的可拓展性能,而忽视仪器价格与日常做样成本上存在的明显差异,也有不妥。
unknown8888
第53楼2013/01/30
EN71-3:2013要做第二类限值的六价铬,那必须保证:
1、仪器整个体系足够干净(那么仪器在做二类测试样品前,必须冲洗足够长的时间,时间成本必须考虑);
2、二类测试要求测试过程、前处理过程用到的水、试剂、标准品都必须具有最高的纯度(二类六价铬的标准曲线要达到PPT级,哪怕ppt级别的六价铬污染都会对二类六价铬定量造成很大干扰。试剂成本必须考虑);
3、即便六价铬标准溶液在ppt级别上有相对较好的相应和平滑的基线,但实际样品基体的复杂性,会给PPT级别的六价铬的分离造成很严重的影响(基体的复杂会给PPT级的六价铬的基线带来非常大的波动,不可能要求所有第二类测试样品都必须是简单的基体环境)。
所以,无论是用LC-ICP-MS还是用IC来测试,对于第一类和第三类六价铬来讲,两种仪器的灵敏度和重现性都能很好的满足要求了,而对于测限值非常低的第二类六价铬,影响因素最大的不是仪器性能的差别,反而是尽可能的防止各个测试环节中六价铬污染的引入。
可以说:二类的六价铬测试,要想取得比较好的定量结果和重现性,那是在一种“简单的样品基质,在非常非常干净的试剂,标品,仪器体系的测试环境中”才有可能达到的理想状态。
我们不能简单的下结论:LC-ICPMS能做第三类,IC做不了第三类。
007爵士
第54楼2013/01/30
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确实对于低含量物质的检测,我们除了考虑仪器设备性能外,必须考虑环境条件跟操作过程所带入的污染情况。
兄弟,解答的果然专业全面!你们已经开始大批量测试六价铬项目了,在不过分泄露公司私密条件下,得为行业的朋友们着想呀,在这块多给点指导哦~~~
娴闲
第59楼2013/01/31
有道理。我有点不明白,玩具样品实际上基体都是比较复杂的,怎么才能做到“简单的基体环境”?需要特别的前处理吗?
我原来的想法也和楼主一样,但上次我们拿了样品到仪器厂家那里做样,看他们好像很轻松就做出来了,他们的ICPMS也是放在普通环境(不是洁净室),准备工作也做得很差,我们到了现场仪器才开始预热,但大概半个小时左右后就可以做样了,这半个小时还包括了做六个样品的前处理和配标准曲线的时间,做了二类样和加标回收,效果还可以。我一直没完全想明白,我觉得比较合理的解释是:环境中的铬本底绝大部分是三价铬,六价铬本底应该是很低的,所以才没有干扰到这次做样;至于前处理的过程和能否抗基体干扰还得看方法,仪器只是提供一个平台。
007爵士
第60楼2013/01/31
你做样的P公司整体其实挺好的。你可能只针对自己样品做样,样品的类型基质条件都相对单一。我们当时有几个不同实验室提供不同样品,而且这些样品间的差异性很大,出现的问题也相对比较多。P公司解决问题的思路跟态度是很赞的。多角度全面评估一个仪器,一个方法,一个事件,而不单单局限于自我的某个认识水平。同行的交流跟信息的获取挺关键的。