水平有限啊~~下探头也用的少。

用下探头拍摄需要考虑的因素比较复杂，并且高倍图像质量跟上探头没法比。我慢慢探索。

呵呵，其实有些东西还是下探头表现的要好很多。特别是在复合材料中，我们不能思路单一化。光想着高分辨图像，为了高分辨其他一切不顾最后的结果与实际相去越来越远。比如，我们不能为了图像清晰一味的减小束斑，而不考虑信号量最后是信噪比将图像细节完全压缩掉，得到的结果反而不好。所以高分辨我们一定要做到清晰度和信号量的完美配比，而不能一条筋的减小束斑。还有工作距离也是一样，你不能光考虑束流密度的大小而忽略了会聚角的影响，最后你也未必会获得最佳的结果。有时候样品表现出来的信息下探头的效果反而好于混合的效果，比如我贴出来的这张图。使用混合探头二次电子信号由于样品的疏松信号出不来，而且荷电的影响大迫使你采用低加速电压，小工作距离根本无法看清镍线的立体感且铁磁性材料无法过于接近物镜，结果是表面给磨平不光颗粒度出不来清晰度也下降不少。

inlens是小工作距离的产物，大工作距离还是用样品室sed的好！冷场图像果然不是盖的！

这个帖子有意思

就像小M说的，这是一个擂台贴。欢迎各位高手在此贴图较量，充分表现各自电镜的优劣。图片是说明问题最直接最明了的证据，胜过所有的语言，语言是苍白的。说得再多也不如图片来的真实，有说服力。也希望你能在此贴图展示。

怎么就林老师一人在展示？正在调研场发射电镜，多么希望是多家参加“论剑”.

呵呵。没有人攻擂呀。那我们务务虚，请问：球差校正，聚光镜球差校正和物镜的球差校正有什么区别？

蓝莓，闭眼你们有什么看法？

蓝莓用过球差校正的仪器，我先垫个场吧。只知道这几个名词和JEOL主攻聚光镜球差校正，也就是ARM系列，FEI主攻物镜球差校正，是Titan系列。至于区别，不敢说了解，大概是前者主要对STEM的分辨率提升有利，后者的优势是对原位样品观察有利。

对，这个是他们的结果。还有球差校正器到底是不是磁透镜？日电的胡晋生也没有说清楚。

STEM是会聚束成像，原位观察是平行光成像。所以这两者的球差校正应该会有区别，那么区别在哪呢？现在球差校正说的很火，但是真正十分透彻的解说还是不多。前段时间看过一个段子，说的是。学术之美，在于一头雾水；我觉得现在的球差校正也让人一头雾水。这就是模糊论，厂家应该清楚。不过厂家不说清楚这个球差到底是怎么回事。

JEOL主管球差校正的技术人员大概是日本人。请FEI的汤栋过来，应该能给你讲清楚。