你好！ 搞定了，谢谢！只能用 ie 浏览器

fengyonghe(fengyonghe) 发表:可能是前两步没搞对





中间还有几步是你知道的。最后一步“回复话题”。

信号量很低,查一下EDS设定的线扫参数是否单点驻留时间偏短? 另外,检查你用的电压,束斑大小,样品截面所处的位置,倾斜角度,放大倍率等参数, 看是否能优化参数后再测试.

首先你看人家那纵坐标，检测了起码有半小时吧。另外看他横坐标，应该很短的距离，你的看不出来。
还有他的图不是检测得到的，是后期他自己画的。

应助达人

你的图横坐标没有单位，文献图扫的是2μm的宽度；你的图纵坐标不知道表示什么量，如果是cps，那么数据量太小了，最大值才不到两百

文献的很容易做啊 有什么难的？

貌似文献中的是经过类似Origin等处理过的图标，你那个是EDS自带的软件的原始数据，会有点区别的。

hxing(hxing) 发表:大家好！ 有没有人用 EDX 线扫描 CIGS（Cu（In，Ga）Se2）横断面的 成分变化呀，我做了一个 EDX线扫描，但是结果和文献报道 严重不符，请熟知这方面的 同学帮忙 给些建议，谢谢！
下面一幅图是我得到的EDX 先扫描结果：



下面一幅图是 文献中报道的EDX 线扫描，为什么差距不同呢，请高手看看，谢谢！



样品中有Cu In Ga Se 四种元素，但四种元素的比例应该不同，但怎么会四种元素结果 都是 类似的呢？怎样才能得到 和 文献中 报道 的 EDX 线扫 一致的 谱线呢，求 帮助！3Q！

你的材料成分与文献的材料成分不一样吧，文献中的材料成分Zn是基体成分，Cu In Ga Se 是另外一个相。你的材料没有Zn ，Cu In Ga Se 四种元素是均匀的一个相。所以我认为你的扫描结果也是正确的。前提是你的材料中没有Zn。如果你材料中也有Zn ，那就是扫描距离还要加长才能扫到基体Zn ，Cu In Ga Se 四种元素才能形成曲线分布。

你好！谢谢你的回复。请问这方面有教程吗

抱歉,我也只是使用者,就自己经验说的,能谱教程似乎没有见到过.

你好！我的样品检测也有半个多小时的，横坐标长度一样 都是 微米级的，我就是不知道 纵坐标表示什么。

下面这幅图是 我用origin 画的，这幅图和上面的图的区别在于 上面一幅图 使用的是 stack lines by offset 模式画的。另外，原始数据我也上传了，麻烦你在有时间时 帮我看看。谢谢！