我的横坐标也是 表示距离 单位微米。就是不知道 纵坐标的含义，那个测试人员也不是很清楚，我把原始数据 上传到附件 了，请你帮忙看看，谢谢！

我不是很懂这个 ，能不能说的详细些，如何做呢，另外，原始数据我也上传了，请你帮忙看看，谢谢

我的那个也是 用origin 画的， 原始数据我已经上传到附件，请帮忙看看，谢谢了

你好！文献中的 那个 图中的 Zn元素 因为有上层 薄膜中含有Zn， 然后渗入到 下层 中的。我的材料中不含Zn， 但是 Cu In Ga Se四中元素的 比例是不同的， 不应该是 那样一个分布的

恩，我已经把原始数据上传到付件了，你能不能 帮我看看，谢谢!

你的样品这四个元素有没有可能是均匀分布的？

还有你的距离的单位是多少？文献里的单位好像是微米，如果在几个微米级别做线扫描应该不会准吧？

hxing(hxing) 发表:大家好！ 有没有人用 EDX 线扫描 CIGS（Cu（In，Ga）Se2）横断面的 成分变化呀，我做了一个 EDX线扫描，但是结果和文献报道 严重不符，请熟知这方面的 同学帮忙 给些建议，谢谢！
下面一幅图是我得到的EDX 先扫描结果：



下面一幅图是 文献中报道的EDX 线扫描，为什么差距不同呢，请高手看看，谢谢！



样品中有Cu In Ga Se 四种元素，但四种元素的比例应该不同，但怎么会四种元素结果 都是 类似的呢？怎样才能得到 和 文献中 报道 的 EDX 线扫 一致的 谱线呢，求 帮助！3Q！

下面是 测试原始数据，请大家在不忙时 帮忙看看，谢啦！（数据见附件）

到底是怎样分布的要先看看金相显微镜，确认有不连续的相，才能在线扫描中看到曲线状分布。能否发张金相照片上来看看。

应助达人

原始数据的纵坐标是At%，文献纵坐标是count，这或许是不一样的原因吧

文献上是在一条线的方向上选了10个点，计算每个点不同元素的含量，然后建立的曲线。和你的线扫描是不一样的。

你好！谢谢你的回复，是不是 SEM EDS 线扫描的时候 可以 设置 扫描间隔，也就是 设置 打点个数？ 谢谢！