ZEISS的中国销售代理选择一错再错，最后失去了先机，让FEI和JOEL抢滩，后悔啊

其实购买ZEISS电镜相信的是其品牌，但其中国代理实在令国人寒心。我们2008年购买电镜的时候估计是不会考虑ZEISS了。

有品牌无实在，谁会买，日本人不会。
好酒也怕巷子深，售后不好， 东西再好也白搭。

ZEISS的确是一个大公司，但我并不认为ZEISS的EM实力比FEI好，现在EM市场上技术最先进，综合实力最强的无论从理念，研发队伍还是已有的产品上FEI都当之无愧地以领先地位存在，从ZEISS前一段希望收购FEI以得到FIB技术被FEI拒绝以来，与日本精工的合作已经越来越紧密，与此同时，我们不难看出，ZEISS根本无意于中国市场，从人员配备，市场产品的销售与服务各方面都能看出，ZEISS并不想在中国市场上做点什么，至少目前还没有看出这一点，也正因如此，ZEISS电子显微镜在中国市场上一直以售后不好而闻名，所以综合来讲，即使ZEISS真的在电子显微镜上有更好的发展，在中国区的服务短时期内也很难得到公司的重视，毕竟好的工程师不是一年两年能培训出来的。

大道理讲得倒是振振有词， 我支持ZEISS， 您支持FEI，各执一词，很容易吵起来。
让我这么讲吧， 怎么会有这么傻的公司不想在中国卖机器呢， 中国人腰包鼓得很，谁会跟钱过不去呢，哈哈， FEI 不傻， ZEISS 也不笨。
ZEISS 在中国没有打开 不是因为市场战略问题， 而是战术不够地方化， 德国人控制德国公司的传统难以改变。FEI彻底地方化，从FEI买机器和从国内买机器没有什么两样。
相信这点我最有发言权。
FEI也不像您说得那么天花乱坠， FEI的机器现在都是 捷克造， 起码ZEISS的机器还是英国和德国造的， 我去过 FEI和ZEISS的工厂数次，论制造质量， FEI的实在难以恭维。
再说FIB， FEI和ZEISS都用 一家法国公司的离子筒， 质量能相差到哪里去呢，关于这家法国货的投诉不断，这个大家都知道， 既然没有质量的差别， 那么只能说 ZEISS和日本精工的合作是ZEISS想摆脱法国离子筒的设计和质量问题，寻求新的合作夥伴。
这个FEI早晚也得做， 好在FEI市场做的好， 再烂的产品让销售吹上一千遍，也能给用户洗脑。
说回来，购买决定在国内不是技术层能够决定的，而是政治层，换句话说就是文盲层，买FEI，不买ZEISS，这种决定能好到哪里去呢。

ZEISS和SEIKO的FIB市场占有率不高,无非是资源整合而已,市场策略而已,至于吹上天嘛
SEIKO的离子枪强在哪里嘛?离子枪是很重要,但设计和软件也起了决定性因素,FEI的长处在于他们双束的专利设计.
市场决定一切,SEIKO的FIB用的人也寥寥无几.
中国买得起ZEISS的单位大有人在,不是所有人都是文盲,
中国也有很多外企是老外在作主,不是你单单的一个您所谓的
"文盲层"就能决定一切的.
ZEISS的问题出在哪里只有ZEISS自己知道,也许您也知道.
既然能在这个市场上生存,没有谁比谁强了十万八千里,
否定别人的人自己也强不到哪里去.

经常潜水看您关于SEM的见解,倒是蛮仰慕您渊博的知识,
只是觉得您没必要把别家都说成烂泥,ZEISS捧成一朵花!
不好意思,跟您抬杠了!

接受您的批评。
关于ZEISS和SII的双束， 中国市场是没多少，但我们都生活在地球上，我觉得应该以地球市场占有量来衡量，中国市场是重要，也不小，但绝对代表不了地球。
中国电镜市场很有点垄断的味道，这对谁都没有好处，吹ZEISS比吹其他厂家好，就是这个道理。

不管怎么说，我们都不是ZEISS的决策人物，所以最多只能做到精神上的支持，相信RENXIN版主也是心有余而力不足，市场最终占有也当然不是这种信仰上的层面能有所帮助的。

Best tool award
Carl Zeiss SMT – Crossbeam Failure Analysis Tool


The ZEISS CrossBeam tool combines the advantages of ultra high resolution, low dose GEMINI â Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) with a high performance Focused Ion Beam (FIB) system. The capability to image the sample in real time at high resolution during ion beam milling and deposition makes the ZEISS CrossBeam â workstation the ultimate 3D analysis and research tool. The CrossBeam â concept not only enables extremely accurate cross sectioning of devices, but also gives precise metrology and full compositional information. The system comprises a multichannel gas injection section system for deposition of metals and insulors, enhanced etching and device modification.

The GEMINI â FESEM column, with it's booster column and dual integrated detection systems enables precise site specific TEM lamella production to investigate voids, nanoscale barrier layers and allows accurate 3D reconstruction. The ability to image in layers and to reconstruct devices in 3D gives in depth information for failure analysis on complex devices and about the quality of the fab processes. The 3D analysis capability gives comprehensive structural, compositional (chemical) information and allows for exact metrology. These features enable increased yield and assist in the development of robust fab processes. The CrossBeam â tool can be further enhanced with dedicated analytical detectors, STEM imaging nanomanipulators for nanoprobing.

NVision 40-世界顶尖性能的电子束镜筒与离子束镜筒的完美结合

精工电子纳米科技有限公司与德国蔡司公司共同开发的新一代产品NVision40

精工电子纳米科技有限公司（简称：精工纳米和德国蔡司(Carl Zeiss)公司德国 Oberkochen 以下简称CZ公司）于美国时间2006年7月31日在美国芝加哥召开的电子显微镜国际学术研讨会Microscopy & Microanalysis 2006(M＆M2006)上，共同发表了两公司联合研制开发的FIB-SEM双束仪器“NVision 40”。

该仪器结合了具有世界顶尖性能的精工纳米SMI3000离子束镜筒和蔡司公司的GEMINI电子束镜筒, 是继2006年7月13日共同发表的主要服务于半导体领域的“XVision 300”之后的又一强强联合,共同开发研制的新产品。

“NVision 40”仪器的电子束镜筒，是在CZ公司的高分辨ULTRA扫描电子显微镜镜筒的基础上开发研制而成。In-Lens的SE和EsB两种高性能检测器，即使在超接近样品和超低加速电压的环境下，也可实现高性能的样品观察和分析。同时, 搭载了精工纳米的新型聚焦离子束SMI3000镜筒和Multi-Channel Gas供给系统。该镜筒可实现4nm的高分辨率观察，同时提供快速的样品加工以及在低加速电压下的样品加工。此外，通过GEMINI镜筒的高分辨适时观察，在加工过程中，不仅可准确的确定加工位置，同时可以精确的检测加工的终点，从而实现准确高效的透射电子显微镜TEM的样品制备。

该仪器将被广泛应用于材料研究、半导体失效分析、生命科学等领域。