重在参与，希望以后能做的更精密。

楼主有没有碰到样品被荧光射线击穿的现象？大米为有机物质，如果只是粉末压片法制备样品，样品是不是很容易被X射线击穿，测定的结果受到样品槽的影响？样品槽也是合金的码~~~

应助达人

只能检测到ppm。

看你这个软件是天瑞的xrf吧？

楼主你写的真好 天瑞仪器刘博士要是能看到你这么写 不感到一塌糊涂 写的太好了 这个不是一般的工厂工程师做的做的 这个估计是出自天瑞仪器总部人写的文章 我感觉好奇怪的事情 你那那个测试rohs的软件 选择一条Pe塑胶的曲线 随意的那么一座 大米杯子里面随意的那么一放 开机就测起 还有你那个工作曲线那么一拉 两点定直线 一拉就出来了 文章就出来了 对食品用xrf来测根本就是实现不了的事情 目前的xrf 关键还是国产的xrf

就是 XRF不能测镉 很是蛋疼 楼主是哪个厂家的XRF啊？中文软件啊？

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你们的XRF一定很高端的配置哦！厉害。

认同，也扫过米，不敢拿出来秀。食品检测限太低了。我们的XRF达不到食品级别要求。如果真的XRF能扫到Cd那是不是很恐怖啊？

实在受不了以上各位的冷嘲热讽，标题明明写了重在参与，文章内容里也注明了该方法不太适合，特别说明是普及XRF的使用，真不知道为什么要这样冷嘲热讽，有意思吗？

这个方法来做大米粉中的镉，没有用的，最多就是玩玩而已。要么用ICP-MS要么用石墨炉原子吸收了。