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  • jk1301

    第11楼2014/08/13

    我们用氘灯扣背景,没有塞曼扣背景。。

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  • amcom2011

    第12楼2014/09/05

    都要扣背景的,如果是氘灯扣背景的话,基本上350nm以上就扣不掉了。塞曼扣背景的话就是全波长都能扣

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  • amcom2011

    第13楼2014/09/05

    都要扣背景的,如果是氘灯扣背景的话,基本上350nm以上就扣不掉了。塞曼扣背景的话就是全波长都能扣

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  • abcpgf

    第14楼2014/09/05

    应助达人

    看仪器和测试方法需要,不过,大多数都是扣背景的。

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  • zhuzx

    第15楼2014/09/17

    建议看一下扣背景的原理。一般来说,火焰法用氘灯扣背景,石墨炉用塞曼扣背景。是否扣背景主要看样品基体复杂程度,平时工作中可以有意做一下扣背景和不扣背景的差异的。建议最好是扣背景,否则测值容易偏高。如果是考核时做安瓿瓶装的标准物质,因为不存在什么基体干扰,同时又为了追求仪器特别是灯源的稳定性,这时可以不扣背景。

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  • 夕阳

    第16楼2014/09/17

    应助达人

    理论上是应该的。

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  • platinum

    第17楼2014/09/18

    如果仪器有波长扫描功能,对氘灯做个波长扫描,氘灯在200-350nm时能量强度很稳定,在350以上变化很大。很多元素分析波长都在350nm以下,所以一般火焰扣背景时一般在350nm以下才扣。

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  • 漂浮云

    第18楼2014/09/19

    应助工程师

    背景时客观存在的,还是扣除比较好吧?火焰中的粒子也很复杂的,像一些结构背景我们根本不知道有没有,个人还是持保守态度,觉着应该扣除背景。

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  • ll001

    第19楼2014/09/19

    我来说个我切身的体会
    用国产仪器时,从未使用过扣背景,考核从未失手
    用进口仪器时,每次必扣背景,也没觉得有什么区别

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  • 大都市重庆

    第20楼2014/09/23

    呵呵楼上的回答我比较满意 你这个观点也是我想说的 国产仪器就算你想扣背景 也无法做。。。。。。

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