核心参数
规格 | 1个 |
产品介绍
微型电子器件插件采用特制夹具将微型电子器件、太阳能电池以及其他晶片状材料固定在样品杯中,使其免遭到破坏。测试后,样品可以完好无损的取下,重新回到制备环节中去,或者参与其他损耗检测。
微型电子器件插件与金像样品杯结合使用,可以直接将样品固定于插件上。不需要在背面粘附样品或者样品表面接触,通过倾斜的夹钳将样品牢固的固定在插件上,16 个夹钳均匀施力,不会造成样品的损坏。
X-断面观测插件适合于涂层以及多层半导体器件等断口、断面的观测。与传统的耗时又费钱的树脂镶嵌相比,这种办法简单而快速,且不需要螺丝等其它工具来固定样品。
X-断面观测插件与金像样品杯结合使用。借助X-断面观测插件,样品固定在特制夹具中,无需其他辅助工具,可以迅速而简便的对样品的位置进行调整。X-断面观测插件保留样品断面的原始状态,无需抛光,使得观测完毕后样品可重新使用或进行其它检测。
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