扫描电镜在半导体失效分析中的应用案例分享
- 类别:其他资料
- 上传人:复纳科学仪器
- 上传时间:2022/3/9 14:40:50
- 文件大小:5120K
- 下载次数:9
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简介:
失效分析对于纠正设计和研发错误、完善产品、提高产品良品率和可靠性有重要意义,飞纳电镜可以提供简单、高效、精确的电子半导体材料检测方案,对于失效模式的确定有极大的帮助。
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