飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 是终极的集成化成像分析系统。借助该系统,既可观察样品的表面形貌,又可分析其元素组分。
研究样品时,得到样品的形貌信息只是解决了一半问题。获得样品的元素组分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊设计的能谱探测器,飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 可以完善解决上述所有问题。
能谱仪是一种基于样品被电子束激发而产生 X 射线的分析仪器。Phenom 的能谱仪无论软件、硬件都是完全集成设计在飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 系统中。
Element Identification (EID) 软件可以使用户实现多点分析,检测样品的元素组分。此外,该软件还可以扩展到元素分析线面扫(mapping)功能。分步操作界面可以帮助用户更方便地收集、导出分析数据。
Phenom ProX 主要技术参数
电子放大 | 最高 350,000 X |
分辨率 | 优于 6 nm |
光学导航相机 | 彩色 |
加速电压 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调 |
真空模式 | 标准模式 降低荷电效应模式 |
探测器 | 背散射电子探测器 |
样品尺寸 | 最大直径 32 mm |
样品高度 | 最高 100 mm |
农/林/牧/渔 2023-04-03
造纸/印刷/包装 2023-03-10
制药/生物制药 2023-03-10
制药/生物制药 2023-03-09
环保 2022-11-18
用户单位 | 采购时间 |
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华南理工大学 | 2014-03-06 |
厦门卷烟厂 | 2013-01-04 |
浙江大学 | 2013-05-21 |
上海交通大学 | 2014-04-08 |
同济大学 | 2012-04-12 |
泰科电子 | 2013-05-02 |
西安交通大学 | 2013-03-21 |
索尼中国 | 2012-08-01 |
哈尔滨工业大学 | 2012-10-10 |
清华大学 | 2012-04-13 |
复旦大学 | 2013-04-18 |
中国工程物理研究院 | 2014-01-10 |
南京工业大学 | 2013-11-13 |
北京大学 | 2013-12-20 |
中科院西安地球环境研究所 | 2013-11-07 |
1年
是
有
1年2个名额
无
质保期内,除自然灾害和人为因素损坏外,全部免费维修
货物出现故障后,供货方8小时给出初步反馈。
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