产品介绍 Bruker FilmTek CD椭偏仪
- 类别:仪器样本
- 上传人:尔迪仪器
- 上传时间:2022/9/13 11:40:36
- 文件大小:11K
- 下载次数:0
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消耗积分 : 免积分
简介:
——多模态临界尺寸测量和薄膜计量学
FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们解决方案,可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD测量和高级薄膜分析。该系统同时提供已知和完全未知结构的实时多层堆叠特性和CD测量。
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