72DL PLUS超声测厚仪_8P-V01-202305

  1. 类别:仪器样本
  2. 上传人:仪景通光学科技
  3. 上传时间:2023/12/26 14:32:42
  4. 文件大小:491K
  5. 下载次数:6
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简介:

奥林巴斯72DL PLUS超声测厚仪小巧便携、易于使用,可以提供精确的厚度测量值。该测厚仪具备快速扫查、高级算 法和奥林巴斯迄今为止测量低的最小厚度的能力,可使您充满信心地测量超薄层的厚度,完成具有挑战性的应用。 72DL PLUS测厚仪提供标准频率和高频率两种型号。高频率型号可以测量超薄材料,包括多层漆料、塑料、金属和涂 层,其多层测量软件可以同时显示最多六个独立层的厚度。所有72DL PLUS型号都具有快速、准确测量厚度的功能。

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