一种精准测量的关键：薄膜厚度测量仪

在现代工业生产中，薄膜厚度测量是确保产品质量和性能稳定的关键步骤。薄膜厚度测量仪作为一种精密仪器，在各种工业领域中发挥着不可或缺的作用。本文将深入探讨薄膜厚度测量仪的原理、应用场景以及选择时的考量因素，帮助您更好地了解和应用这一技术。 薄膜厚度测量仪的原理与工作方式 薄膜厚度测量仪通过多种精密的物理测量原理来准确测量薄膜的厚度。其中最常见的原理包括： 1. 光学干涉法：利用光的干涉现象来测量薄膜的厚度。这种方法适用于透明薄膜，通过测量反射或透射光的干涉条纹来计算厚度。 2. X射线吸收法：使用X射线穿过薄膜，并测量透射的X射线强度。不同厚度的薄膜会吸收不同量的X射线，从而可以推断出薄膜的厚度。