霍尔效应测试仪器
- 类别:仪器样本
- 上传人:xxf0525
- 上传时间:2011/6/20 16:39:17
- 文件大小:964K
- 下载次数:12
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消耗积分 : 10积分 移动终端:免积分
简介:
功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数
测试范围:Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数
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