消耗积分 : 免积分
原子力显微镜(Atomic force microscope, AFM)是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。在表面科学、纳米技术领域、生物电子等领域,扫描探针显微镜(scanning probe microscopy ,SPM)逐渐发展成为重要的、多功能材的材料表征工具。
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