PHI-Trift V Nano TOF-SIMS应用展示1
- 类别:仪器样本
- 上传人:PHICHINA
- 上传时间:2014/6/24 14:53:23
- 文件大小:571K
- 下载次数:38
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消耗积分 : 免积分
简介:
飞行时间二次离子质谱仪是以密度小于1012atoms/cm2的脉冲离子作用于固体表面,通过测量被激发的原子或分子的飞行时间来确定二次离子的质量,并检测各种有机材料及半导体中的微量杂质,可用于各种材料的高灵敏度表面分析。
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