美国Hinds应力双折射测量系统
- 类别:仪器样本
- 上传人:弘度科学仪器
- 上传时间:2014/8/11 17:34:56
- 文件大小:595K
- 下载次数:27
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简介:
Hinds双折射技术因不可比拟的准确度和重复精度, 已被世界上众多顶级光学生产商所采用.延迟度分辨率低至0.005nm, 特别适合于超低延迟度测量和应力双折射分析.
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