半导体电阻率测试仪主要技术指标

  1. 类别:仪器样本
  2. 上传人:恒奥德仪器仪表
  3. 上传时间:2015/1/27 9:19:06
  4. 文件大小:33K
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简介:

半导体电阻率测试仪/四探针电阻率测试仪 型号:CH-WSP-6 CH-WSP-6型半导体电阻率测试仪是专用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米,是生产厂家硅料分选测试的理想具。

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