梅特勒托利多 XPE微量分析天平样本

  1. 类别:仪器样本
  2. 上传人:梅特勒托利多
  3. 上传时间:2015/2/12 10:59:29
  4. 文件大小:434K
  5. 下载次数:26
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简介:

您的样品是否极其昂贵?您的加样量是否非常微小? 或者您想将微量样品直接加入大的去皮容器中?XPE微量分析天平特别适用于微量样品的准确称量。 XPE56微量分析天平具有1μg的可读性,最大称量值可达52g,提供52,000,000的至高分辨率。XPE56具有至高灵敏性和经久耐用性,非常适用于将微量样品直接加入大的去皮容器中进行称量。

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