用于CMM三坐标测量仪的粗糙度测量仪

  1. 类别:仪器样本
  2. 上传人:佰汇兴业
  3. 上传时间:2015/7/10 16:25:39
  4. 文件大小:502K
  5. 下载次数:6
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简介:

CMM测试系统——用于CMM三坐标测量仪上的mini小型粗糙度测量仪,可测量样品的轮廓和粗糙度,可大幅度地降低测量成本。miniprofiler是现行最小的粗糙度测量设备。体积小、重量轻、测量速度快,适合各种形状的工件,特别适合在线测量

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