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荧光寿命是指分子受到光脉冲激发后返回基态之前在激发态平均停留的时间,处于激发态的荧光分子在退激发到基态的过程中发射荧光释放能量,激发态荧光团荧光强度的衰减用数学式表达为单指数函数。测量荧光寿命的方法主要有时域法,时域法也叫脉冲法,它是用超短光脉冲激发样品,测量样品在受到光脉冲激发后荧光强度的衰减规律,最后根据所测得的样品中各点的荧光强度衰减曲线来拟合分析并计算荧光寿命值。全自动荧光寿命光谱仪系统根据材料的不同,采用不同波长的脉冲激光光源激发样品后,产生的荧光强度信号通过探测器单元收集,并交给时间相关单光子计数模块处理。时间相关单光子计数模块测量荧光寿命通过大量测量样品在受到脉冲光激发后荧光光子到达探测器的时间,从而得到荧光强度的衰减规律。进而通过分析软件拟合计算出样品的荧光寿命。
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