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锤子
FIB-SEM双束电镜应用之样品的截面抛光
- 类别：分析方法/应用文章
- 上传人：泰思肯
- 上传时间：2017/11/22 10:35:38
- 文件大小：365K
- 下载次数：33
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简介：
截面抛光是FIB主要用途之一。所谓截面抛光就是利用离子束将样品剖开观察内部的结构，从而分析样品内部的微观组织或缺陷。如下图所示，为了分析焊接界面处的产物，需要将焊接处剖开，从而可以对界面进行成份和晶体结构进行研究。
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