方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 电子元器件产品 |
检测项目 | |
参考标准 | 无 |
使用ICP、ICP-MS分析时存在光学干扰,而仪器的结构又决定了Si的检出限比其他元素更高,所以为了分析低浓度的Si,必须去除光学干扰或更换仪器进样系统 ( 雾室、雾化器、中心管、炬管 ) 本实验的目的是利用NexION 的 DRC模式确定分析Si的最佳条件。
使用ICP、ICP-MS分析时存在光学干扰,而仪器的结构又决定了Si的检出限比其他元素更高,所以为了分析低浓度的Si,必须去除光学干扰或更换仪器进样系统 ( 雾室、雾化器、中心管、炬管 )
本实验的目的是利用NexION 的 DRC模式确定分析Si的最佳条件。
相关产品
珀金埃尔默热重-红外-气相色谱质谱联用 TG-IR-GC/MS
Avio® 550 Max 珀金埃尔默高性能电感耦合 等离子体发射光谱仪
Avio 550/560 珀金埃尔默高性能电感耦合 等离子体发射光谱仪
珀金埃尔默 PerkinElmer GCMS 2400系统
珀金埃尔默GC 2400™ 平台-带分体式触摸屏 气相色谱质谱平台
珀金埃尔默 PerkinElmer MPS 320™ 微波消解仪
LAMBDA365+ 珀金埃尔默紫外/可见光谱仪
珀金埃尔默 PerkinElmer LC 300 HPLC 超高效液相
珀金埃尔默Spectrum 3™傅立叶变换红外光谱仪
珀金埃尔默 PerkinElmer PinAAcle D 900 原子吸收光谱仪
珀金埃尔默 NexION 5000 多重四极杆ICP-MS
珀金埃尔默环境监测走航系统方案
OilPrep 8 油品稀释器
OilPrep 4 油品稀释器
LPC 500液体颗粒计数器和ICP-OES油品联用系统
关注
拨打电话
留言咨询