ICP-OES 分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)

2020/05/20   下载量： 1 次

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应用领域 电子/电气
检测样本 电子元器件产品
检测项目
参考标准 无

钯(Pd)是目前半导体超微镀金使用的非常重要的元素之一。由于是用于超微镀金，所以主要成分钯(Pd)的准确含量很重要，所含杂质的定量也非常重要。本文建立了利用ICP-OES分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)的解决办法。

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钯(Pd)是目前半导体超微镀金使用的非常重要的元素之一。由于是用于超微镀金，所以主要成分钯(Pd)的准确含量很重要，所含杂质的定量也非常重要。本文建立了利用ICP-OES分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)的解决办法。


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文献贡献者

珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司
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