紫外可见光谱法-测量膜的厚度和透过率

解决方案 概述:

   在定义波长下,可通过测量样品在不同角度下的反射率,利用特殊数据处理手段,获取薄膜/涂层厚度指标。这方面的应用在多种行业逐步普及,例如太阳能光伏,电子元器件,光电元件,显示屏幕等行业,都涉及到将半导体沉积到元件表面,沉积速率的的变化薄膜厚度不同,对元件特性产生很大影响,因此,测定薄膜/涂层厚度非常重要。

  德国耶拿公司采用SPECORD® 250 Plus紫外可见分光光度计和可变角度反射附件,测量膜的厚度和透过率。
  
   SPECORD® 250 Plus,在单色器前有一个散列光栅,可以明显降低散射光,一方面可以预分解光,另一方面可提高透射和反射测量的灵敏度。


   利用可变角度反射附件,通过灵活调节不同的测量角度的反射率,使用软件特殊工具直接计算不同的薄膜/涂层厚度,测量范围扩展到0.1um -200 um。

了解更多详情,请点击以下应用文章
http://img1.17img.cn/17img/old/NewsImags/files/2013710152157.pdf

关于“可变角度反射附件”:
   可调角度范围为11°~60°,用于固体表面,薄片胶卷和其界面反射率、厚度和折射率的测量,测量范围为0.1-100um。比如电子行业中,电路板涂层厚度的测量等。


其他反射附件:
“固定角度反射附件” 
反射角度固定在7℃,利用V-W光束结构,用于光滑、均一平板表面,层和反射材料的反射率及厚度的测量。

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