牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器
优选

牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器

参考价：¥50万 - 60万
型号： Ultim Max TLE
产地： 英国
品牌： 牛津仪器
评分：
应用领域：
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核心参数
创新点
。首次在透射电镜装配80mm2 X-Max大面积能谱探头 。独一无二的大面积SDD探测晶体 。探测晶体置于独立的密封真空中-轻元素的x射线不再被吸收 。独特的电子陷阱设计使采集角更大 。专用的SDD脉冲处理器 。无需液氮制冷 。外置PentaFET设计-与不同尺寸的探头晶体完美结合
牛津仪器科技（上海）有限公司
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Ultim Max TEM，搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。

全新设计80mm2的传感器，进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。

·       0.2 - 0.6 srad的立体角

·       对低能量x射线的灵敏度可提高8倍

·       可在400,000cps的计数率下进行定量分析

在原位实验中，可在1000°C的温度下采集谱图




旗舰款SDD传感器Ultim Max TLE，搭载于透射电子显微镜(TEM)，经过设计优化，提高了小束斑下的计数率，可表征原子尺度的元素信息。

这一性能是通过优化的晶体形状，100mm2大面积晶体，无窗结构，优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。

  • 0.5 - 1.1srad的立体角

  • 对低能量x射线的灵敏度可提高8倍

  • 可在400,000cps的计数率下进行定量分析

在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图




Xplore TEM是专门为120kV和200kV 透射电镜（TEM）的常规应用而设计的元素分析系统。使用新的 80mm2 传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器件 , 为用户提供快速和准确的元素表征。

  • 0.1 - 0.4 srad的立体角

  • 从Be到Cf的元素检测

  • 可在200,000cps的计数率下进行定量分析

SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利性


牛津仪器科技（上海）有限公司为您提供牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器Ultim Max TLE，牛津仪器Ultim Max TLE产地为英国，属于进口X射线能谱仪(EDS)，除了牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供牛津仪器INCAWave波谱仪、牛津仪器Azteclive能谱实时元素成像系统、牛津仪器TKD样品座,牛津仪器客服电话400-860-2711，售前、售后均可联系。

牛津仪器X射线能谱仪Ultim Max TLE的工作原理介绍X射线能谱仪Ultim Max TLE的使用方法?牛津仪器Ultim Max TLE多少钱一台?X射线能谱仪Ultim Max TLE可以检测什么？X射线能谱仪Ultim Max TLE使用的注意事项？牛津仪器Ultim Max TLE的说明书有吗？牛津仪器X射线能谱仪Ultim Max TLE的操作规程有吗？牛津仪器X射线能谱仪Ultim Max TLE报价含票含运吗？牛津仪器Ultim Max TLE有现货吗？
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