硅树脂涂层分析新方法

2004/08/18   下载量： 326 次

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测量纸张（包含薄玻璃纸及单双面涂布离型纸）、橡胶、薄膜等硅树脂涂层分析新方法。高性能、低价位、简单易用的分析工具。无需操作者有更多的X射线荧光分析原理知识，可由非实验室人员操作。

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牛津仪器科技（上海）有限公司
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