方案摘要
方案下载应用领域 | 材料 |
检测样本 | 其它 |
检测项目 | |
参考标准 | N/A |
基于X射线荧光能谱法, 全反射X射线荧光(TXRF)采用毫弧度的临界角,由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X射线光束几乎全部被反射,照射在样品表面后,可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体的背景和噪声。
基于X射线荧光能谱法, 全反射X射线荧光(TXRF)采用毫弧度的临界角,由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X射线光束几乎全部被反射,照射在样品表面后,可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体的背景和噪声。
这种技术特点,使得全反射X射线荧光(TXRF)与其他传统元素分析技术相比,有着诸多优势,见下表:
意大利GNR公司是一家老牌的欧洲光谱仪生产商,其X射线产品线诞生于1966年,经过半个多世纪的开发和研究,该产品线已经拥有众多型号满足多个行业的分析需求。
X射线衍射仪(XRD)可测试粉末、薄膜等样品的晶体结构等指标,多应用于分子结构分析及金属相变研究;而全反射X荧光光谱仪(TXRF)的检测限已达到皮克级别,其非破坏性分析特点应用在痕量元素分析中,涉及环境、医药、半导体、核工业、石油化工等行业;为迎合工业市场需求而设计制造的专用残余应力分析仪、残余奥氏体分析仪,近年来被广泛应用在高端材料检测领域,其操作的便捷性颇受行业青睐。
GNR全反射荧光光谱仪Horizon检测氨基酸锌中锌的含量
GNR残余应力分析仪EDGE对轴承的测试
GNR残余应力分析仪STRESS-X对齿轮的测试
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询