单次反射ATR法测定高分子薄膜

2007/03/28   下载量： 962 次

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衰减全反射（ATR）是傅立叶变换红外光谱外仪中应用最为广泛的附件，尤其是测定高分子材料领域的样品时，更显出独特的应用价值。本文以实际样品测定为例，介绍了使用单次反射ATR附件分析高分子多层膜及薄膜表面涂层的方法。

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岛津企业管理（中国）有限公司
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