方案摘要
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从样品发射的荧光X射线，由分光晶体分光为一次线X射线和高次线，并进入到检测器中。将高次线范围的X射线，作为“高次线峰”，一次线范围的X射线作为“一次线峰”同时进行测定。然后将一次线峰和高次线峰进行对比，可以方便的检查高次线的影响。 利用X射线荧光的高次谱线分析，避免一次谱线的重合，使定性定量分析更为准确。
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