岛津:红外显微镜法测定液晶显示器背光模组中的微小异物

2017/09/29   下载量: 4

方案摘要

方案下载
应用领域 电子/电气
检测样本 电子元器件产品
检测项目
参考标准 --

近几年,液晶显示器得到广泛应用,背光模组是此类显示器中的重要部件,本文介绍了使用红外显微镜法测定液晶显示器背光模组中微小异物的方法。 液晶显示器属于被动元件,本身无发光能力,必需在显示器背部设置背光照明模组。背光模组的质量控制是液晶显示器生产中的重要环节,如背光模组在生产阶段引入异物,将影响到液晶显示器的品质。 在品质管理上重要的微小异物分析中,红外显微镜是简便有力的分析工具。微小异物经取出后用高压金刚石压薄或压碎,使用红外显微镜的透射模式测定异物样品的红外光谱图,经红外谱库搜索后,给出异物的定性结果,由此可以追溯异物的来源。

方案下载
上一篇 基于AI算法的LC方法开发自动梯度优化
下一篇 岛津:使用PTV-GCMS法分析PAHs

文献贡献者

相关仪器 更多
相关方案
更多

相关产品

当前位置: 岛津 方案 岛津:红外显微镜法测定液晶显示器背光模组中的微小异物

关注

拨打电话

留言咨询