利用新型光电二极管阵列检测器SPD-M40的药物中杂质分析

2020/04/30   下载量: 3

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应用领域 制药/生物制药
检测样本 其他
检测项目 含量测定>色谱法
参考标准

新型光电二极管阵列检测器SPD-M40可彻底排除检测时杂散光的影响,不仅具有较大的动态范围(规格值为最大2.5 AU的线性、Typical值在其之上),同时具备高灵敏度和低噪声的特点。另外,可利用Advanced TC-Optics(流通池、光源室和分光计单元,三重控温)的偏差小、稳定的基线进行分析,适合分析药品中所含微量杂质。 此次介绍使用SPD-M40的药品中杂质分析的实例。

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从安全性角度出发,需要严格管理药品中杂质的含量。人用药品注册技术要求国际协调会(ICH)中对于含新有效成分药品当中,原药杂质的相关指南和制剂杂质的相关指南当中,规定了有关杂质的阈值。药品中含量在0.1%以上的杂质需要向当局报告、确定结构以及安全性。1)2)

为此,药品开发、制造过程当中,微量杂质的定量是非常重要的。

以下流程用于使用面积百分比测定药物中的杂质浓度。使用一定浓度的标准溶液进行分析,使主峰的高度在检测器线性的范围内。因而,若检测器的线性范围不够宽,则很难检测出低浓度杂质,为此需要分析多个不同浓度的样品。

新型光电二极管阵列检测器SPD-M40可彻底排除检测时杂散光的影响,不仅具有较大的动态范围(规格值为最大2.5 AU的线性、Typical值在其之上),同时具备高灵敏度和低噪声的特点。另外,可利用Advanced TC-Optics(流通池、光源室和分光计单元,三重控温)的偏差小、稳定的基线进行分析,适合分析药品中所含微量杂质。

此次介绍使用SPD-M40的药品中杂质分析的实例。


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