Sn掺杂的C12A7: e-电纳米颗粒的XPS表征

2020/10/30   下载量： 0 次

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采用岛津Axis Supra多模式团簇枪(最大能量可达20kV)对样品进行深度分析，氩刻蚀会将部分Sn4+还原为金属态，与单Ar+离子刻蚀比较，Ar团簇离子刻蚀对Sn物种造成的还原程度更小，能够较大程度保留样品的原始信息。

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本文对Sn掺杂的C12A7: e-驻极体纳米粒子的表面化学性质进行了全面的X射线光电子能谱（XPS）表征，结果表明在掺杂的C12A7: e-纳米颗粒的表面上，Sn物种主要以Sn4 +的形式存在。通过单Ar+和Ar团簇离子刻蚀研究了元素随深度的分布情况。结果表明，Sn在表面富集，氩离子刻蚀会将部分Sn4+还原为金属态Sn，Ar团簇离子刻蚀对Sn4+的还原作用要弱于单Ar+刻蚀。刻蚀后元素Ca，Al，O的化学状态和分布没有明显变化。本研究对掺杂的C12A7: e-纳米粒子的化学状态分析提供了新颖的见解。 

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