使用inspeXio™ SMX™-225CT FPD HR Plus观察晶体振荡器的事例

2020/11/23   下载量： 0 次

方案摘要

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应用领域 电子/电气
检测样本 电子元器件产品
检测项目
参考标准 无

X射线CT系统可以在不破坏产品的情况下，对其内部结构进行二维、三维观察。此外，根据目的使用分析软件，还可以实现空隙体积等的数值化，对产品进行定量评价。

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随着电子技术的飞速发展，对安装在产品中的电子零部件提出了小型化和更高功能性的要求。其中，“晶体单元”和“晶体振荡器”之类的晶体元器件对产品的精确动作来说是不可或缺的。本文介绍了使用微焦X射线CT系统inspeXio™ SMX™-225CT FPD HR Plus对晶体振荡器的内部结构进行观察的事例。


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文献贡献者

岛津企业管理（中国）有限公司
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