SMX-225CT FPD HR Plus观察电子陶瓷内部结构

2021/09/25   下载量： 5 次

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应用领域 半导体
检测样本 其他
检测项目
参考标准 无

本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察5G电子陶瓷滤波器内部结构。使用CT扫描后通过岛津公司独有软件MPR立即显示CT截面图，观察内部结构。通过VG软件观察杂质、裂纹及孔隙缺陷并进行尺寸测量。使用VG软件缺陷模块计算电子陶瓷滤波器中的杂质率，呈现杂质分布立体效果图。

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 采用岛津公司的inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统检测5G电子陶瓷滤波器内部结构，通过CT无损观察内部裂纹、杂质和孔隙。通过VG软件测量缺陷尺寸和计算电子陶瓷滤波器的杂质率，有助于工厂品质部管控和研发部产品开发    


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文献贡献者

岛津企业管理（中国）有限公司
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