方案摘要
方案下载应用领域 | 半导体 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | |
参考标准 | 无 |
本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察5G电子陶瓷滤波器内部结构。使用CT扫描后通过岛津公司独有软件MPR立即显示CT截面图,观察内部结构。通过VG软件观察杂质、裂纹及孔隙缺陷并进行尺寸测量。使用VG软件缺陷模块计算电子陶瓷滤波器中的杂质率,呈现杂质分布立体效果图。
采用岛津公司的inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统检测5G电子陶瓷滤波器内部结构,通过CT无损观察内部裂纹、杂质和孔隙。通过VG软件测量缺陷尺寸和计算电子陶瓷滤波器的杂质率,有助于工厂品质部管控和研发部产品开发
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