方案摘要
方案下载应用领域 | 半导体 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | |
参考标准 | 无 |
六方结构的石墨作为负极材料中的活性物质,在锂离子电池中有着广泛的应用。石墨为六方层状结构,在极片制备过程中,容易产生择优取向,而取向程度会直接影响锂离子的扩散速率及极片的振实密度。石墨层状结构的取向比(OI)可通过石墨(004)衍射峰与(110)衍射峰的强度比进行快速表征。本文使用岛津XRD对某石墨极片进行了测试,并采用峰强度比I(004)/I(110)计算得到该石墨极片样品取向比OI为2.36,测试结果可为石墨负极极片工艺控制及优化提供科学可靠的指导。
使用岛津XRD对某石墨粉末及其制备而成的极片样品进行了测试,对照ICDD-PDF卡片库完成物相鉴定,结果表明该石墨粉末样品为纯相的六方结构石墨;采用峰强度比I(004)/I(110)计算得到该石墨极片样品取向比OI为2.36。上述方法,可拓展用于研究取向比与振实密度及电性能之间的关系,进而可为石墨负极极片工艺控制及优化提供科学可靠的指导。
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