方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | 其它 |
参考标准 | 无 |
本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6000微焦点X射线检查装置的X射线透视和CT 功能,对CPU进行的实例观察。针对CPU透视放大后金线绑定现象进行检测。
采用岛津公司的Xslicer SMX-6000设备检查样品,可以根据不同的观察点和细节选择合适的观察方法。
LC-MS/MS同时分析93种全氟和多氟烷基化合物
锂离子充电电池鼓胀气的分析
一次分析锂离子电池内部降解的鼓胀气
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