方案摘要
方案下载| 应用领域 | 地矿 |
| 检测样本 | 金属矿产 |
| 检测项目 | 表征 |
| 参考标准 | 无 |
黄铁矿表面通常具有厚达几百纳米的贫金层，其金含量远低于XPS的常规检出限（~0.1 at%）且厚度远大于XPS的检测深度（~10 nm），该贫金层的存在导致无法直接采用XPS技术获得其内部富金环带的有效信息。本文以贵州贞丰水银洞金矿样品为例，采用非氧化性酸简单有效地去除了屏蔽XPS信号的贫金层（位于含砷黄铁矿最外层）以及干扰XPS金信号的含镁矿物（如白云石），首次采用XPS获得了“隐形金”的一系列重要定量数据。
卡林型金矿石中“隐形金”的XPS表征，定量地证明了离子Au+和纳米颗粒Au0的共存，揭示了卡林型矿石研究领域的许多令人困惑的问题。除了公认的低（ppm级）金浓度和矿石中金物种的极小（纳米级）尺寸外，还发现了黄铁矿的信号阻挡表面层（CAu＜0.1 at%；厚度>数百纳米）和干扰信号的碳酸镁组分是造成XPS表征困难的主要原因。首次实现了采用XPS对卡林型矿石中金元素化学态进行了定量分析。由于样品中金含量低、分布不均且谱峰间存在互相干扰，因此利用XPS表面敏感的特征结合合理的样品表面前处理方法才能得到较好的测试结果，采用岛津AXIS Supra仪器测试的XPS，利用其大功率的特性，得到了信噪比较好的谱峰数据，有效推动了研究进展。
文献贡献者
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