方案摘要
方案下载| 应用领域 | 半导体 |
| 检测样本 | 其他 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | 无 |
扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscopy，SPM），其原理是利用一个细微的探针在样品表面扫描的同时，检测探针与样品之间相互作用的物理量，从而表征材料表面的形貌、粗糙度、电流电势分布及磁畴分布等。SPM在一定测试环境下，可以准确测量样品表面纳米级及以下的起伏。本文对放置在不同位置的具有相同配置的SPM-9700HT进行对比测试，证实了环境因素的确会对SPM-9700HT的测试产生一定的影响。
SPM-9700HT是岛津公司目前在售的一款扫描探针显微镜，可以准确表征样品表面纳米级及以下的起伏。本文使用两台SPM-9700HT（不同环境、相同配置及测试条件）对云母表面进行对比测试，研究环境因素对SPM-9700HT测试的影响，结果表明：使用某高校分析测试中心的SPM-9700HT获得的测试结果要优于岛津上海分析中心SPM-9700HT的，即仪器所处环境（振动、噪音及电磁干扰）越好，其测试效果越好，且环境因素对微小区域的测试结果影响更大。希望该结果为岛津SPM用户的表征测试和安装环境提供一定的参考。
文献贡献者
LC-MS/MS同时分析93种全氟和多氟烷基化合物
锂离子充电电池鼓胀气的分析
一次分析锂离子电池内部降解的鼓胀气
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