日本HORIBA公司纳米粒度/Zeta电位分析仪 SZ-100

日本HORIBA公司纳米粒度/Zeta电位分析仪 SZ-100

参考价:面议
型号: SZ-100
产地: 日本
品牌: 堀场
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HORIBA SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析,zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定。SZ-100的典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。

 

颗粒分析仪采用动态光散射原理(DLS)。根据样品的物理性质,动态测量范围为0.3 nm – 8 µm。检测范围的下限受到以下因素的影响:样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响,因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。

SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池,通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多,斥力较大,较难发生团聚,溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地,发现zeta电位为零时(就是说,样品处于等电点),就要考虑选择最佳条件将颗粒进行絮凝和分离。

SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液,然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线,从而计算出MwA2

特征

  • 将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身
  • 宽检测范围,宽浓度范围
  • 双光路双角度粒径测量(90° 173°
  • 多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光
  • 用于粒径和zeta电位检测的微量样品池
  • 自动滴定仪:可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

路易企业有限公司为您提供堀场日本HORIBA公司纳米粒度/Zeta电位分析仪 SZ-100,堀场SZ-100产地为日本,属于激光粒度仪,除了日本HORIBA公司纳米粒度/Zeta电位分析仪 SZ-100的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多激光粒度仪,路易企业客服电话400-870-3013,售前、售后均可联系。

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