Horiba X射线荧光分析仪是专门针对WEEE(电气电子产品废弃物处理法令)和RoHS法令(限制电器电子产品使用有害物质法令),快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外,通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面,选取所需要的测试点,操作非常简单。
X射线荧光是一种可对加工材料和部件进行快速、无损扫描的检测技术。分析时间只需要几分钟,灵敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系统的检测最低限度可以低至2 ppm (0.0002%). 标准的1.2 mm 分析光速可以保证即使是非常小的电子元件和部件也可以独立进行分析。
路易企业有限公司为您提供堀场日本HORIBA公司X荧光光谱仪(有害元素检测仪)MESA-50,堀场MESA-50产地为日本,属于X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪),除了日本HORIBA公司X荧光光谱仪(有害元素检测仪)的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪),路易企业客服电话400-870-3013,售前、售后均可联系。