普析:X射线衍射法测定高岭石合成的NaY分子筛物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比研究

2017/09/24   下载量: 12

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应用领域 石油/化工
检测样本 其他
检测项目
参考标准 --

由高岭石合成的NaY分子筛经如下处理:将试样放入玛瑙研钵中充分研细,经120℃,1小时烘干,然后置于氯化钙过饱和水溶液气氛中(室温20~30℃)吸水16至24小时;将处理后试样照X射线衍射仪(XRD)进行测定,分析其物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比。该方法测得的NaY分子筛各参数,比通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好,并为高岭石合成NaY分子筛提供了有效的理论依据,从而可以及时监控合成NaY分子筛的生产过程,降低了NaY分子筛生产成本。

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