使用 Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪 对纳米材料进行单颗粒分析

2014/09/05   下载量: 50

方案摘要

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应用领域 材料
检测样本 纳米材料
检测项目
参考标准 -

在本文中,我们使用 Agilent 7900 ICP-MS 测定单个NP 峰信号并对其性能进行了评估。7900 ICP-MS 拥有全新的正交检测器系统,积分时间可快至 100 μs,TRA 读数之间无需稳定时间,而且 TRA 模式的整体采集速度比 7700x快 30 倍,可实现瞬时信号的快速测量。

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配置单
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