使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Th 元素

2018/12/26   下载量： 2 次

方案摘要

方案下载
应用领域 电子/电气
检测样本 其他
检测项目
参考标准 暂无

Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。

方案下载
配置单
方案详情

Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。

上一篇 使用 Agilent 8697 顶空进样器和 8850 GC-FID 系统进行制药行业的残留溶剂分析
下一篇 使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 U 元素

文献贡献者

安捷伦科技(中国)有限公司
钻石会员 丨 第23年
查看全部资料
相关仪器 更多
相关方案
更多
当前位置： 安捷伦 方案 使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Th 元素

关注

拨打电话

留言咨询