方案摘要
方案下载| 应用领域 | 石油/化工 |
| 检测样本 | 其他 |
| 检测项目 | 表征 |
| 参考标准 | / |
纳米 SiO2 材料的应用范围的不断扩展引发了对其环境和健康危害性的关注，这种需求促生了用于 SiO2 纳米材料直接测定和表征的新方法的开发，虽然 SP-ICP-MS 技术已经确认是可用于纳米颗粒物浓度和粒径的直接表征方法，但是由于 Si 元素在质谱测定中会面临的强质谱重叠干扰，传统单级质谱存在定量难度，本文利用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 串联质谱的强干扰消除能力，实现了 Si 元素的无干扰测定，从而完成了使用 SP-ICP-MS/MS 对 SiO2 纳米材料的直接表征。
纳米 SiO2 材料的应用范围的不断扩展引发了对其环境和健康危害性的关注，这种需求促生了用于 SiO2 纳米材料直接测定和表征的新方法的开发，虽然 SP-ICP-MS 技术已经确认是可用于纳米颗粒物浓度和粒径的直接表征方法，但是由于 Si 元素在质谱测定中会面临的强质谱重叠干扰，传统单级质谱存在定量难度，本文利用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 串联质谱的强干扰消除能力，实现了 Si 元素的无干扰测定，从而完成了使用 SP-ICP-MS/MS 对 SiO2 纳米材料的直接表征。
文献贡献者
单克隆抗体的高分离度、高通量体积 排阻色谱分析
采用液相色谱-四极杆串联飞行时间高分辨质谱分析锂电池中的碳酸酯有机溶剂组分
使用 Agilent 5800 ICP-OES 测定固态 电解质锂镧锆钽氧 (LLZTO) 中的 主量元素
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