其他null检测 | 1SU9000在低电压电子能量损失谱中的应用-天美仪拓实验室设备（上海）有限公司

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应用领域	半导体
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电子能量损失谱（EELS）作为一种元素分析方法已经在透射电镜中被广泛使用。但是，传统的透射电镜由于电压过高，对于某些材料（如纳米材料、弱相位）进行EELS分析时会产生较大的损伤，或者无法显示足够的衬度，这类材料往往需要低电压（<30kV）的EELS分析。日立的SU9000既有扫描电镜的功能，同时又带有EELS和电子衍射等透射电镜的分析功能，很好的填补了透射电镜在低电压EELS和电子衍射方面的缺陷。在线PDF阅读

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电子能量损失谱（EELS）作为一种元素分析方法已经在透射电镜中被广泛使用。但是，传统的透射电镜由于电压过高，对于某些材料（如纳米材料、弱相位）进行EELS分析时会产生较大的损伤，或者无法显示足够的衬度，这类材料往往需要低电压（<30kV）的EELS分析。日立的SU9000既有扫描电镜的功能，同时又带有EELS和电子衍射等透射电镜的分析功能，很好的填补了透射电镜在低电压EELS和电子衍射方面的缺陷。

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文献贡献者

天美仪拓实验室设备（上海）有限公司

钻石会员丨第22年

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