方案摘要
方案下载应用领域 | 半导体 |
检测样本 | 集成电路 |
检测项目 | |
参考标准 | GB/T 30656-2023《碳化硅单晶抛光片》 SJT 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法 GB/35306《硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅里叶红外光谱法 》; GB/T24574 《单晶硅中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法》;(SEMI MF 1389-0704 ) GB/T 36705-2018《氮化镓衬底片载流子浓度的检测拉曼光谱法》; GB/T 34899—2017微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法 |
半导体是电子产品的核心,是信息产业的基石。半导体行业已成为全球重要的战略性产业之一。随着全球经济的发展,半导体市场需求与竞争也不断增加,对半导体创新技术和材料迭代更新均提出了更高的需求。目前,半导体材料作为整体行业重要的上游支撑材料,如今已发展到四代半导体,在这些材料提纯制备和生产过程中,其物理性质如晶型结构、杂质含量。缺陷类型及浓度、应力及应变等决定了最终产品的各种性能。爱丁堡分子光谱提供显微拉曼、光致发光及傅里叶红外表征技术,协助生产过程对这些材料属性进行监测与把控。
半导体是电子产品的核心,是信息产业的基石。半导体行业已成为全球重要的战略性产业之一。随着全球经济的发展,半导体市场需求与竞争也不断增加,对半导体创新技术和材料迭代更新均提出了更高的需求。目前,半导体材料作为整体行业重要的上游支撑材料,如今已发展到四代半导体,在这些材料提纯制备和生产过程中,其物理性质如晶型结构、杂质含量。缺陷类型及浓度、应力及应变等决定了最终产品的各种性能。爱丁堡分子光谱提供显微拉曼、光致发光及傅里叶红外表征技术,协助生产过程对这些材料属性进行监测与把控。
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