| 型号： | 全晶圆半导体参数 |
| 产地： | 北京 |
| 品牌： | 卓立汉光 |
| 评分： |
|
| 应用领域： |
共1个
查看经典案例
|
全晶圆半导体参数非接触测试解决方案
Full-wafer Noncontac Measuring Solutions forSemiconductor Parameters
基于我公司自主研发的激光自动聚焦、自动化显微成像、宽场荧光成像、共焦光致发光光谱和共焦拉曼光谱等核心测试技术和模组，联合白光干涉等其它 3D 测量技术，根据客户的需求灵活组合相应的技术搭配，为客户开发定制化的半导体参数测试解决方案，获得从粗糙度、图形尺寸和膜厚等几何参数，到位错、层错等缺陷，再到发光波长、寿命、载流子浓度、组分和应力等物理参数的综合测量，实现无需任何前处理的全晶圆无损自动化检测。
相关产品
工商信息
信息已认证
关注
拨打电话
留言咨询
