日本电子200kV六硼化镧透射电镜升级

日本电子株式会社(JEOL)

2004/09/01 12:19
TA的动态
日本电子200kV六硼化镧透射电镜已经由原来的JEM-2010升级为JEM-2100。
JEM-2100六硼化镧分析型透射电子显微镜，不但具有优秀的电子光学系统，实现了计算机控制，还可以与扫描投射附件(STEM)，X-射线能谱仪(JED-2300T)，电子能量损失谱仪(EELS)实现一体化控制。
主要特点
良好的稳定性：高压和束流强度具有良好的稳定性，依靠完善的透镜系统，在200kV下点分辨率可以达到0.19 nm。
新式框架设计：大大降低了震动对仪器的影响。
分析效率高：最新式能谱探头，固体角和取出角分别达到0.28 sr和24.1°。分析精度高，效率好。
样品台：最新式样品台提供纳米尺度的精确移动。
良好的扩展性：可以与扫描投射附件(STEM)，X-射线能谱仪(JED-2300T)，电子能量损失谱仪(EELS)实现一体化控制。还可以与其它计算机联机实现信息共享。
详情请咨询日本电子北京事务所袁先生
电话：010-68046321
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