方案摘要
方案下载应用领域 | |
检测样本 | |
检测项目 | |
参考标准 |
ABF技术是JEOL应用在球差校正电镜上的最新技术,与传统的STEM HAADF技术观察重原子相比,STEM ABF技术可以清晰看到轻原子位置,本文是一片应用ABF技术看一号元素H的好文章。
利用JEOL球差电镜的常规ADF/ABF探测器直接拍摄敏感材料
锂电池解决方案-观察、分析、制造
磁性样品的扫描电镜观察与分析
日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA
日本电子 JEOL 电子探针JXA-iHP200F
日本电子 JEOL 钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-IT510
日本电子 JEOL 触摸屏控制热场发射扫描电子镜 JSM-IT710HR
日本电子 JSM-IT810场发射扫描电子显微镜
日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2
日本电子 JEOL 新一代冷冻透射电镜CRYOARM 300II (JEM-3300)
日本电子 JEOL 氩离子截面抛光仪 IB-19530CP
日本电子 JEOL 自动进样场发射透射电镜JEM-F200
日本电子 JEOL 高通量场发射透射电子显微镜 JEM-ACE200F
日本电子 JEOL 软X射线分光谱仪 SXES
日本电子 JEOL 能量色散X射线荧光光谱仪 JSX-1000S
液相色谱 -飞行时间质谱仪
超四极杆质谱仪
日本电子 JEOL 超高分辨热场发射扫描电镜 JSM-IT800
关注
拨打电话
留言咨询